1. Ученая степень
    доктор технических наук
  2. Ученое звание
    профессор
  3. Научное направление
    Технические науки
  4. Регион
    Россия / Санкт-Петербург

1961 Закончил Ленинградский институт точной механики и оптики Радиотехнический факультет1968 Закончил Ленинградский государственный университет Математико-механический факультет, 1981 Защитил кандидатскую диссертацию во ВНИИ метрологической службы, 1993 Защитил докторскую диссертацию во ВНИИ метрологии им. Д. И. Менделеева, 1997 Management training internship в фирме TUV Rheinland of North America (Newtown, CT) в соответствии с Economic Development Program (инициатор - Center for Citizen Initiatives, USA). РАБОТА: 1958-60 - Лаборант кафедры теоретической радиотехники ЛИТМО. 1961-64 - Инженер, старший инженер организации п/я 489. 1964-67 - Инженер-лаборант ВНИИ телевидения. 1967-83 - Старший инженер, ведущий инженер ВНИИ метрологии. 1983-87 - Доцент кафедры метрологии СЗПИ. 1987-90 - Начальник отдела теоретической метрологии ВНИИ. метрологии измерительных и управляющих систем (Львов). 1990-96 - Заведующий головной лабораторией метрологии и стандартизации АН СССР - РАН (Институт проблем транспорта РАН). Ученый секретарь Научного совета по метрологии и стандартизации при Президиуме РАН. 1991-95 - Участие в разработке Международных стандартов ISO 9000 в редакции 1994 г. (в качестве члена Национальной рабочей группы России в TC 176, ISO). 1995-2000 - Профессор СПбГЭТУ (кафедра биомедицинской электроники и охраны среды). 1996-...Главный метролог ФГУП "ЦНИИ "Электроприбор". 1997 - Работа в качестве приглашенного исследователя в Physikalisch-Technische Bundesanstalt (Berlin). 2005-06 - Участие в подготовке новой редакции проекта Федерального Закона "Об обеспечении единства измерений" (в качестве члена Рабочей группы Минпромэнерго). НАУЧНЫЕ ДОСТИЖЕНИЯ: Анализ точности оптико-телевизионного способа измерений координат точечного объекта. Разработка способа сличений эталонов частоты с помощью квантователя разности фаз. Разработка методов стабильной фиксации сигналов точного времени. Анализ понятия измеряемой величины и ее истинного значения. Доказательство неравенства А. А. Харкевича относительно мажоранты для переходной характеристики линейной системы. Разработка теоретических, методических и нормативных основ метрологического обеспечения измерений в динамическом режиме. Разработка методологии метрологического обеспечения измерительных информационных и управляющих систем. Системный анализ и определение структуры метрологической деятельности. Разработка принципов сертификации программ обработки данных при измерениях. Выявление и анализ содержания стандартизации в природе и культуре. Анализ и формулировка сущности проблемы качества в аспекте ее происхождения. Метрологический анализ принципов оценивания и контроля точности навигационных комплексов при испытаниях. Разработка принципов и способов метрологического обеспечения виртуальных средств измерений. НАУЧНЫЕ ИНТЕРЕСЫ: Методология системного анализа и синтеза. Метрология и метрологическое обеспечение. Методология стандартизации и управления качеством. Методология обеспечения качества высшего образования. ЧИТАЕМЫЕ КУРСЫ ЛЕКЦИЙ: Основы метрологии, Теоретическая метрология, Прикладная метрология, Законодательная метрология, Экономика метрологического обеспечения, Основы стандартизации и управления качеством, Статистические методы контроля качества, Основы экологии, Основы природопользования.

Научные публикации

Всего автор более 160-ти, в том числе книги:

Динамические измерения: Основы метрологического обеспечения (1984).

Методы обработки экспериментальных данных при измерениях (1990, в соавторстве с Т. Н. Сирой).

Основы экологии: Учебное пособие (1997, в соавторстве с С. А. Фили-стом, 140 c.).

Системная метрология: Метрологические системы и метрология систем (1999).

сборники:

Динамические измерения: Тезисы докладов 2 - 5 Всесоюзных симпозиумов (1978, 1981, 1984, 1988, ред.).

Стандартизация и метрология: Материалы 3, 5 - 12 Всеакадемических школ (1985, 1987-92, 1993, 1995, зам. отв. ред.).

Исследования в области теории метрологического обеспечения ИИС и АСУ ТП (1990, ред.).

Methodological Aspects of Data Processing and Information Systems in Metrology: PTB and St. Petersburg Collection (1999, co-editor Prof. D. Richter)

УЧЕБНО-МЕТОДИЧЕСКИЕ РАБОТЫ

Измерение неэлектрических величин: Метод. сборник, 1985 (СЗПИ).

Измерение неэлектрических величин: Методич. указания по выполнению лаб. работ, 1985 (СЗПИ).

Обработка экспериментальных данных в физическом практикуме: Методич. указания, 1985 (СЗПИ).

Методические указания к дипломному проектированию, 1985 (СЗПИ).

Динамические измерения: Методич. сборник, , 1986 (СЗПИ).

Основы метрологии, точность и надежность: Методический сборник, 1987 (СЗПИ).

Технологические измерения и приборы. Аналитический контроль в металлургическом производстве: Метод. указ. к выполн. лаб. работ, 1988 (СЗПИ).

Динамические измерения: Метод. указания по выполн. лаб. работ, 1989 (СЗПИ)

Основы экологии: Учебное пособие (1997, 75 c.).


Последняя редакция анкеты: 31 мая 2010